Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Düşük Koherenslı Optik İnterferometri Teknikleri Kullanılarak Bir Malzemenin Lazerle İşlenmesi İçin Bir Makinedeki En Az Bir Optik Elemanın Yerel Konumunu Belirleme Yöntemi.

Buluş Özeti

Bir malzemenin lazerle işlenmesi için bir makinenin bir çalışma kafasında bir lazer ışınının taşınması için bir optik yolla ilişkili en az bir optik elemanın yerel konumunu belirlemek için bir yöntem ve bir sistem açıklanmaktadır: - ilgili bir ölçüm düşük tutarlı optik radyasyon ışının üretilmesi, ölçüm ışınını optik elemana doğru yönlendirilmesi ve yansıyan veya yayılan ölçüm ışınını optik elemandan bir optik interferometrik sensör düzenlemesine doğru yönlendirilmesi; - ilgili bir referans düşük tutarlı optik radyasyon ışını üretmek ve referans ışınının interferometrik optik sensör düzenlemesine doğru yönlendirilmesi; - ölçüm ışını ve referans ışınının sensör araçlarının ortak bir geliş bölgesinde üst üste bindirilmesi; - ölçüm ışını ve referans ışını arasındaki girişim saçaklarının bir modelinin konumunu geliş bölgesi üzerinde tespit edilmesi; ve - geliş bölgesinin bir aydınlatma ekseni boyunca girişim modelinin konumunun bir fonksiyonu olarak ölçüm optik yolu ve referans optik yolu arasındaki optik uzunluktaki bir farkı veya (a) optik elemanın mevcut yerel konumu ve (b) optik elemanın önceden belirlenmiş nominal yerel konumu arasındaki bir farkın göstergesi olan frekans alanındaki girişim modelinin frekansının belirlenmesi.

IPC Sınıfları
G01B9/02G01B9/02015B23K26/046B23K26/70G01B9/02055B23K26/03G01B9/0209
Taraflar
Buluş Sahibi
Simone Donadello Daniele Colombo Barbara Prevıtalı
Hak Sahibi
Adıge S.P.A. Vıa Per Barco, 11 38056 Levıco Terme (Tn) İtalya
Vekil
Öznur Genç İlhan (İstanbul Patent A.Ş.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.