Buluş, paralel liflerden oluşan bir çekirdek içeren fasyalanmış ipliğin yapısal kusurlarını tespit etmek için bir yöntemle ilgilidir. Çekirdek, sargı lifleri ve yabani liflerden oluşan bir sargı tabakası ile birbirine bağlanmıştır. Hareket halindeki ipliğin görüntüsü, en az bir optik iplik sensörü tarafından iplik uzunluğunun en az bir kısmında yakalanır. Optik iplik sensörü, en az bir sıra radyasyona duyarlı eleman ve en az bir radyasyon kaynağı içerir. Optik sensör, yazılımla donatılmış elektronik devreye bağlıdır. Yakalanan iplik görüntüsü, dijital görüntü analiz yöntemi ile işlenerek iplik yüzey yapısı hakkında veri elde edilir. Elde edilen verilerden, iplik yüzeyindeki değişiklikler tespit edilir. İplik yüzey yapısındaki bu değişiklikler önceden belirlenmiş kriterlerle karşılaştırılır ve iplik yüzey yapısındaki bu değişiklikler önceden belirlenmiş kriterleri aşarsa, ipliğin ilgili yeri, ipliğin yapısal bir kusurunun meydana geldiği yer olarak belirlenir. Ayrıca, buluş, yöntemi uygulamak için bir cihaz, bir bilgisayar programı ve bir bilgisayar tarafından okunabilir bir ortamla da ilgilidir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.