Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Fasyalanmış İpliğinin Yapısal Kusurlarını Tespit Etmek İçin Bir Yöntem, Yöntemi Uygulamak İçin Bir Cihaz, Cihaz İçin Bir Bilgisayar Programı Ve Bilgisayar Programı İle Birlikte Bilgisayar Tarafından Okunabilir Bir Ortam.

Buluş Özeti

Buluş, paralel liflerden oluşan bir çekirdek içeren fasyalanmış ipliğin yapısal kusurlarını tespit etmek için bir yöntemle ilgilidir. Çekirdek, sargı lifleri ve yabani liflerden oluşan bir sargı tabakası ile birbirine bağlanmıştır. Hareket halindeki ipliğin görüntüsü, en az bir optik iplik sensörü tarafından iplik uzunluğunun en az bir kısmında yakalanır. Optik iplik sensörü, en az bir sıra radyasyona duyarlı eleman ve en az bir radyasyon kaynağı içerir. Optik sensör, yazılımla donatılmış elektronik devreye bağlıdır. Yakalanan iplik görüntüsü, dijital görüntü analiz yöntemi ile işlenerek iplik yüzey yapısı hakkında veri elde edilir. Elde edilen verilerden, iplik yüzeyindeki değişiklikler tespit edilir. İplik yüzey yapısındaki bu değişiklikler önceden belirlenmiş kriterlerle karşılaştırılır ve iplik yüzey yapısındaki bu değişiklikler önceden belirlenmiş kriterleri aşarsa, ipliğin ilgili yeri, ipliğin yapısal bir kusurunun meydana geldiği yer olarak belirlenir. Ayrıca, buluş, yöntemi uygulamak için bir cihaz, bir bilgisayar programı ve bir bilgisayar tarafından okunabilir bir ortamla da ilgilidir.

IPC Sınıfları
D01H13/22G01N21/89G01B11/30G01N33/36
Taraflar
Buluş Sahibi
Pavel Kousalık Josef Ludvıcek Zdenek Beran
Hak Sahibi
Rıeter Cz S.R.O. Moravská 519 562 01 Ústí Nad Orlıcí Çek Cumhuriyeti
Vekil
Altan Altun (Proıp Patent Marka Dan. Ve Müh. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.