Sistem Patent
Patent Başvurusu

Yapay Zekâ Destekli Baskı Ön İzleme Sistemi

Buluş Özeti

Bu buluş, dijital grafik tasarım ve endüstriyel baskı üretim süreçlerinde, tasarım ekranında görüntülenen renkler ile fiziksel baskı çıktıları arasında oluşabilecek renk uyumsuzluklarını baskı öncesi aşamada yüksek doğrulukla tahmin ederek hatalı baskı riskini azaltmak, prova ve yeniden baskı ihtiyacını en aza indirmek ve farklı baskı makineleri ile değişken üretim koşullarına uyum sağlayan dinamik renk simülasyonu oluşturmak amacıyla kullanılabilen yapay zekâ destekli baskı ön izleme sistemi ile ilgili olup, özelliği; baskı makinesinden elde edilen gerçek CMYK çıktı değerlerini, mürekkep yoğunluğunu, kağıt türüne bağlı emilim bilgilerini ve ortam sıcaklık?nem verilerini sürekli olarak toplayan veri toplama modülü (1), toplanan ham verilerdeki gürültüyü, eksik kayıtları ve tutarsız ölçümleri ayıklayarak verileri işlenebilir hale getiren veri temizleme modülü (2), temizlenmiş veri setlerini kullanarak baskı makinesinin gerçek CMYK üretim davranışını yapay zekâ ve makine öğrenmesi algoritmaları ile modelleyen renk davranışı öğrenme modülü (3), kullanıcının ekranda gördüğü ön izlemenin gerçek baskı çıktısına yüksek doğrulukla karşılık geldiğini görerek baskı öncesi renk düzeltmelerini yapabilmesi için öğrenilen renk davranışı modelinden gelen tahminleri gerçek zamanlı olarak tasarım ekranına yansıtan baskı ön izleme motoru (4), yeni baskı çıktıları ve değişen üretim koşullarına bağlı olarak yapay zekâ modelini periyodik veya sürekli şekilde yeniden eğiten güncelleme modülü (5) ve baskı ön izleme motorunun (4) grafik tasarım yazılımları ve baskı makineleriyle uyumlu şekilde iletişim kurmasını sağlayan entegrasyon arayüzüne (6) sahip olmasıdır. TR 2025 022728 A1

IPC Sınıfları
G06F 3/12H04N 1/60
Taraflar
Başvuran
İstanbul Gelişim Üniversitesi Cihangir M. E-5 Yanyol 259 Avcılar İstanbul Türkiye
Buluş Sahibi
Mustafa Günay
Vekil
Gökhan Çimen (Kuantum Patent A.Ş.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.