Bir olay süresi boyunca akışkanın akışkan parametresinin en az bir hat içi değerini belirlemek için hat içi sensöründen akan bir akışkanı analiz etmek için bir hat sensörü ve numuneye yönelik akışkan parametresinin bir numune değerini belirlemek amacıyla olay süresi boyunca akışkan akışından çıkarılan bir akışkan numunesini analiz etmek için yapılandırılan bir numune sensörü içeren, bir akışkanın analiz edilmesine yönelik bir sistem açıklanmaktadır. Temsili hat içi değere, numuneye yönelik numune değerine, ve numunenin çıkarılma zamanına karşılık gelen hat içi değerlerin biri veya daha fazlasına dayalı olarak olay süresi boyunca akışkan parametresinin genel temsili bir değerini belirlemek için yapılandırılan en az bir işlemci sağlanmaktadır, burada genel temsili değerin belirlenmesi, olay süresi sırasında hat içi sensörüne yönelik belirlenen bir hata düzeltme değerine dayanmaktadır.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.