Buluş, bir alma tertibatına (8), özellikle bir sıkı geçmeli aynayı (4) almak üzere bir alma açıklığına (8), alma tertibatını (8) bir merkezi eksene (10) göre, özellikle eşmerkezli olarak çevreleyen bir ısıl işlem ünitesine (12), özellikle bir indüksiyon bobini düzenlemesine (12) veya bir soğutma ünitesine (12) ve sıkı geçmeli aynanın (4) özellikle temassız sıcaklık ölçümüne yönelik bir ölçüm ünitesine (14) sahip olan, şaft takımlarına (6) yönelik sıkı geçmeli aynaların (4) ısıl işlemine, özellikle indüktif olarak ısıtılmasına veya soğutulmasına yönelik bir aparat (2), özellikle bir sıkı geçmeli aparat (2) veya bir soğutma aparatı (2) veya soğutma aparatına (2) sahip bir sıkı geçmeli aparat ile ilgilidir. Alma açıklığına (8) yerleştirilen sıkı geçmeli aynaların (4) kaplama sıcaklıklarını mümkün olduğunca doğru bir şekilde ölçebilmek içi, ölçüm ünitesinin (14), alma tertibatında (8) düzenlenen bir sıkı geçmeli aynanın (4) kaplama sıcaklığının özellikle temassız olarak tespit edilmesine yönelik olarak, alma tertibatı (8) etrafında düzenlenen çok sayıda sıcaklık sensörüne (16) veya merkezi eksen etrafında eğimli bir sıcaklık sensörü (16') sahip olması veya ölçüm ünitesinin (14) alma tertibatının (8) etrafında düzenlenen çok sayıda sensöre (60) sahip olması sağlanır, burada bunlardan en azından birincisi, alma tertibatı (8) içinde düzenlenen bir sıkı geçmeli aynanın (4) bir kaplama sıcaklığının özellikle temassız olarak tespit edilmesine yönelik bir sıcaklık sensörüdür (16) ve bunlardan en azından ikincisi, alma tertibatında (8) düzenlenen sıkı geçmeli aynanın (4) bir diğer özelliğinin tespit edilmesine yönelik olarak farklı türde bir sensördür (62).
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.