Bir referans noktasının tanımlanması için bir sistem (1010, 1110) açıklanmaktadır. Sistem, bir manyetik alan üretmek için bir alan üreteci (1016, 1116), en az bir referans noktasına (1028, 1128) sahip bir ortopedik implant (1030, 1130), birinci manyetik sensöre sahip çıkarılabilir bir prob (1029, 1129), bir ikinci manyetik sensöre (1020, 1120) sahip bir referans noktası tanımlayıcısı (1016, 1116), ve birinci ve ikinci sensörden gelen sensör verilerini karşılaştırmak ve en az bir referans noktasına göre referans noktası tanımlayıcısının konumunu hesaplamak için ayarlanan mesafeyi kullanmak için bir işlemci (1012, 1112) içerir. Sistem, bir veya daha fazla referans noktasının körü körüne hedeflenmesine izin verir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.