Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Aynı Alanda Edinilen Sar Görüntülerinden Elde Edilen Girişim Eğrilerini Filtrelemek İçin İşlem.

Buluş Özeti

Sentetik açıklık radarları tarafından aynı alanda edinilen, SAR görüntülerinden elde edilen girişim eğrilerinin filtrelenmesi için işlem olup, aşağıdaki aşamaları içerir: a) genel bir sistemde verinin yeniden örneklenmesine izin vermek gibi edinim geometrileri ile bir aynı alanda bir SAR sensörü vasıtasıyla N radar görüntülerinin (A1..AN) bir serilerinin edinimini; b) genel bir sistemde yeniden örneklenmeden sonra, genel sistemden bir pikselin seçilimini; c) seçilmiş pikselin bağdaşım matrisinin hesaplanmasını, yani uygun görüntülerin her olası çifti için kompleks bağdaşım değerlerinin tahminini; d) kaynak vektörüne θ göre maksimize edilimini, burada bir bilinmeyen element, fonksiyonel: (formül) bir kompleks numaranın gerçek parçasını ekstrakte eden operatör R, bağdaşım matrisinin (n,m) elementinin modülü γnm, bir pozitif gerçek sayı k, bağdaşım matrisinin (n,m) elementinin fazı nm, bilinmeyen θ vektörün n ve m elementleri θn ve θm olur. Sadece faz farklarının fonksiyonelde T gözükmesi verildiğinde, bilinmeyen faktörün değerleri ilave bir sabitten daha az tahmin edilir, bu örneğin θ1=0 olarak ayarlanmayla sabitlenebilir, ve elde edilen faz değerleri θn bu sayede filtrelenmiş faz değerlerinin vektörünü oluşturur.

IPC Sınıfları
G01S 13/90
Taraflar
Buluş Sahibi
Alessandro Ferrettı I-20147 Milano İtalya Alfıo Fumagallı I-23885 Calco (Lc) İtalya Stefano Tebaldını I-20135 Milano İtalya Francesco De Zan 82205 Gilching Almanya Alessıo Ruccı I-20060 Cassina De' Pecchi (Mi) İtalya Fabrızıo Novalı I-20158 Milano İtalya
Hak Sahibi
Tele-Rılevamento Europa - T.R.E. Srl 20133 Milano İtalya Polıtecnıco Dı Mılano 20133 Milano İtalya
Vekil
Fulya Sümeralp (Simaj Patent Ltd. Şti.) Tunus Cad. No:46 Kat:2 Kavaklıdere/Ankara

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.