Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Yüzey Analiz Aparatı Ve Yöntemi.

Buluş Özeti

İşaretleme objesi olan bir hedefin karakteristiklerinin tanımlanmasına ilişkin olarak işaretleme objesi olan hedefin işaretleme yüzeyinin neden olduğu işaretlemelere sahip bir yüzeye sahip işaretli bir ürün olan nesnenin sağlanması; bir sensör aracılığıyla işaretli ürün olan nesnenin yüzeyinin 3D sanal modeline karşılık gelen bir 3D veri kümesinin elde edilmesi; bir yüzey bölütleme analizi aracılığıyla veri kümesinden, işaretleme objesi olan hedefin bir sınıfının göstergesi olan verinin elde edilmesi ve söz konusu verinin veri tabanında saklanması; bir yüzey dalgacık filtreleme işlemi aracılığıyla veri kümesinden, işaretleme objesi olan hedefin bir veya daha fazla özel karakteristiğine karşılık gelen verilerin elde edilmesi ve söz konusu verilerin veri tabanında saklanması adımlarını içeren bir yöntemdir.

IPC Sınıfları
G06K 9/00F42B 35/00
Taraflar
Buluş Sahibi
Lıam Blunt Centre For Precision Technologies School Of Computing And Engineering Unviersity Of Huddersfield Queensgate Huddersfield West Yorkshire Hd1 3dh / İngiltere Phılıp Harrıson Centre For Precision Technologies School Of Computing And Engineering University Of Huddersfield Queensgate Huddersfield West Yorkshire Hd1 3dh / İngiltere
Hak Sahibi
Forensıc Pathways Lımıted 2 Snow Hill, Birmingham B4 6ga / İngiltere
Vekil
Filiz Ark (Halitligil Ve Ark Patent Ve Marka Danışmanlık Limited Şirketi) Mutlukent Mah. Mutluköy Sitesi 1943. Cad. No:10 06800 - Çankaya/Ankara

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.