Mevcut buluş bir numune içindeki hedef molekülün ölçülmesi için bir numune kabını içeren bir numune içinde bir hedef molekülü, sözü edilen birinci parçacığın sözü edilen hedef moleküle spesifik olarak bağlanma yetkinliğinde olan bir birinci bağlanma molekülü ile işlevlendirildiği bir birinci parçacığı ve sözü edilen yüzey yapısının bir düz sensörü örttüğü veya bir ikinci parçacık üzerinde mevcut olduğu bir ikinci bağlanma molekülünü içeren bir yüzey yapısını tespit etmek için bir cihaz ile ilgilidir ve burada, sözü edilen birinci parçacık doğrudan veya dolayılı olarak yüzey yapısının sözü edilen ikinci bağlanma molekülüne bağlanma yetkinliğindedir; sözü edilen birinci ve/veya ikinci bağlanma molekülü bir uzun ve rijid bağlayıcı molekül aracılığıylasözü edilen birinci ve/veya ikinci parçacığın ve/veya düz sensör yüzeyinin parçacık yüzeyine eklenir; sözü edilen bağlayıcı molekülün uzunluğu ve bağdaşıklığı 60 nm'den daha fazla sözü edilen bağlayıcının bir ortalama uzantı uzunluğu ile sonuçlanacağı şekilde seçilir; ve parçacık kümelerinin veya bağlanmış parçacıkların sayısı numune içinde mevcut hedef moleküllerin miktarı ile doğrudan veya ters olarak bağlantılıdır. Bir ilave hususta, mevcut buluş bir numune içindeki bir hedef molekülün mevcudiyetini veya miktarını tespit etmenin bir yöntemi ile ilgilidir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.