Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Spektroskopik Alet Ve Spektral Analize Yönelik Proses.

Buluş Özeti

Bir spektroskopik alet (38), birinci optik bileşen (48) üzerine çarpan polikromatik ışık demetinin (46) uzaysal olarak spektral olarak kırılmasına yönelik bir birinci optik bileşen (48), kırılan ışık demetinin (46a, 46b, 46c) çeşitli spektral bölgelerini (B1, B2, B3) ayrı uzaysal bölgelere (52a, 52b, 52c) yönlendiren bir objektif (50) ve birçok ışığa duyarlı sensör elemanı (54a, 54b, 54c) olan, ışık demetinin (46a, 46b, 46c) demet yolundaki objektifin (50) altında konumlandırılan bir sensör (54) içerir. Sensör elemanları (54a, 54b, 54c), her bir sensör elemanının (54a, 54b, 54c) ışık demetinin (46) bir spektral kesiminin (A1, A2, A3) yoğunluğunu kaydedeceği ve spektral kesimlerin (A1, A2, A3) medyanlarının (Mk1, Mk2, Mk3) k-aralığında birbirine göre eşit mesafede konumlandırılacağı şekilde kırılan ışık demetinin (46a, 46b, 46c) demet yolunda düzenlenir, burada (k) dalga sayısını gösterir.

IPC Sınıfları

G01J 3/28

Taraflar

Buluş Sahibi

Claudıa Gorschboth Igensdorfer Strasse 39 90411 Nürnberg Almanya Tobıas Jeglorz Raiffeisenstrasse 4 90547 Stein Almanya Klaus Vogler Goethestrasse 13 90542 Eckental/Eschenau Almanya Hennıng Wısweh Am Lindenplatz 3 38376 Süpplingenburg Almanya Ole Massow Diesten 16 29303 Bergen Almanya

Hak Sahibi

Wavelıght Gmbh Am Wolfsmantel 5 91058 Erlangen Almanya

Vekil

Tolga Çaylak (Dış Patent Marka Tescil Ve Danışmanlık Hiz. Ltd. Şti.) İçerenköy Değirmenyolu Cad. No:12/7 K:5 Ataşehir/İstanbul

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.