Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Manyetik Parçacıklar İle Tayinler İçin Kartuş.

Buluş Özeti

Buluş bir sıvı numune içinde hedef bileşenlerin tespit edilemsi için bir kartuş (100) ve bir karşılık gelen sensör cihazı ile ilgilidir. Kartuş (100) bir numune odacığı (SC), manyetik parçacıklar (MP, M') ile donatılabilen en az iki rezervuar (131, 132) ve çözünmüş durumdaki manyetik parçacıkların ve/veya hedef bileşenlerin içinde tespit edilebildiği en az iki duyarlı bölge (121, 122) içerir. Bir verilen konfigürasyondaki bir manyetik harekete geçirme alanı (B) numune odacığında oluşturulduğu zaman, farklı rezervuarların manyetik parçacıkları farklı duyarlı bölgelere baskın olarak göç eder. Böylece, manyetik parçacıkların karışmasından kaçınılır.

IPC Sınıfları
G01N 33/53
Taraflar
Buluş Sahibi
Mara J. J. Sıjbers High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda Jeroen H. Nıeuwenhuıs High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda Femke K. De Theıje High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda Petrus J. W. Van Lankvelt High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda
Hak Sahibi
Konınklıjke Phılıps N.V. High Tech Campus 5, 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Vekil
Tuğba Gündemir (Ankara Patent Bürosu Ltd. Şti.) Bestekar Sok. No:10/12 Kavaklıdere- Çankayaankara

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.