Bir Kartta Bir Kapasitif Sensör Ve Bir Endüktif Sensör Aracılığıyla Harici Bir Nesnenin Tespit Edilmesi İçin Cihaz Ve Yöntem.

Kalıp, bir inceltme ve/veya bir cilalama süreci kullanılarak inceltilebilmektedir. Bu tarz inceltilmiş kalıp esnek olabilmekte ve esnetildiğinde işlevsel özellikleri değiştirebilmektedir. Tespit devresi aynı zamanda PCB?de sağlanabilmekte ve değiştirilmiş işlevsel özelliklerin tespit edilmesi için kullanılabilmektedir. İnceltilmiş kalıp yığılabilmektedir, birbirine bağlanabilmekte ve esnek bir kartın veya cihazın oluşturulması için lamine malzemenin tabakaları arasında kapsüllenebilmektedir. Elektrikli bir kart, çok sayıda katmanla bir devre kartını içerebilmekte ve çok sayıda okuyucu iletişim cihazını içerebilmektedir. Katmanlardan birisi, bir RFID antenini içerebilmektedir. Elektrikli bir kart, bir kart okuyucusunun bir okuma başlığının tespit edilmesi için kullanılan birden fazla türü içerebilmektedir.