Başvuru bir taşıyıcının (10) temas yüzeyindeki (12) bir inceleme bölgesinde (13) optik muayeneler yapmak için bir yöntem ve bir mikroelektronik sensör cihazı ile ilgilidir ve burada, bir girdi ışık ışını (L1, L1') bir ışık kaynağından (20) inceleme bölgesine
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.