Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Makine Gözetimi İle Uçak Yapılarında Hassas Havşa Yuvalarının Denetlenmesi İçin Yöntem Ve Aparat

Buluş Özeti

Buluş ile, bir bileşenin boyutluluğunun ölçülmesi için aparat ve yöntem ortaya konulmuştur. Bileşenin bir açıklığının veya bir birinci hassas havşa yuvasının, birinci kameradan en az bir birinci resmi alınır. Birinci kamera, bir birinci pozisyondadır ve bir veya daha fazla ışıklı ortamda çalıştırılabilir. Bileşenin açıklığının veya bir ikinci hassas havşa yuvasının bir ikinci kameradan en az bir ikinci resmi alınır. İkinci kamera, bir ikinci pozisyondadır ve delik ve havşa yuvasını içeren karakteristik özelliklerin, bunların bileşen ile kesişimine doğru farklılaştırılması amacıyla alternatif bir ışıklı ortamda çalıştırılabilir. Alınan birinci ve ikinci resimlere bağlı olarak, konumsal ve işlem performans parametreleri, bir veya daha fazla sayısal kontrollü mekanizmaya sağlanır ve onlar için hesaplanır.

IPC Sınıfları
G01B 11/02
Taraflar
Buluş Sahibi
Mıchael D. Mcgraw Po Box 3707 Mc 5f-06 Seattle, Wa 98124-2207 A.B.D.
Hak Sahibi
The Boeıng Company 100 North Riverside Plaza Chicago, Il 60606-1596 A.B.D.
Vekil
Erkan Sevinç (İstanbul Patent A.Ş.) Büyükdere Cad. Plaza 33 No:33 K:7 D:16 Şişli/İstanbul

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.