Bir Elyaf Demetinin Bir Kalınlığının Ölçülmesi İçin Cihaz Ve Ölçüm Silindiri

Mevcut buluş, dış yüzeylere sahip iki adet döner şekilde yataklanan ölçüm silindirleri ile bir elyaf demetinin kalınlığını ölçmek için cihaz ile ilgilidir ve burada, ölçüm silindirlerinin dönme eksenleri birbirine paralel olarak konumlanmaktadır ve elyaf demeti, ölçüm silindirlerinin dış yüzeyleri arasında iletilmektedir ve bir sıkıştırma cihazı ile, ölçüm silindirlerinin mesafesi birbirine göre değiştirilebilmektedir ve böylece ölçüm silindirleri tarafından çevrelenen elyaf demetine bir baskı uygulanabilmektedir. Bunun dışında buluş, özellikle bir cer makinesi, bir tarak makinesi veya bir penye makinesinde bir yüzey kaplaması ile bir elyaf demetinin kalınlığının ölçülmesi için bir cihazda kullanılmak üzere bir ölçüm silindiri ile ilgilidir ve burada, ölçüm silindiri bir dış yüzeye ve bir dönme eksenine sahiptir.