Buluş, elektromanyetik spektrumun görünür, morötesi (Ultraviyole - UV) ve kızılötesi (Infrared - IR) bölgesinin bir kısmını içine alan 250-1100 nm dalga boyu aralığında ışınım elde etmek için farklı tipte aydınlatma kaynaklarından yararlanabilen, hareketli aydınlatma panelleri, hareketli zemin tablası ve hareketli görüntüleme sistemi sayesinde dışarıdan herhangi bir müdahalede bulunulmasına gerek kalmaksızın incelemeye konu nesnenin olası tüm yön ve doğrultulardan homojen ve güçlü bir şekilde aydınlatılarak nesne yüzeyinden yansıyan ışığın farklı dalga boylarındaki enerjisinin ölçümünü sağlayan bir spektroskopik, hiperspektral ve dijital görüntüleme cihazı ile ilgilidir. Söz konusu cihaz temel olarak, incelenecek nesnenin üzerine yerleştirildiği ve ihtiyaca bağlı olarak nesneyi zemine sabitleme ve yüzeyini pürüzsüzleştirme işlevi gören vakum modülünün soketli yapısı sayesinde kolayca sökülüp takılabildiği bir hareketli zemin tablası; üzerinde farklı dalga boyları için farklı türdeki aydınlatma kaynaklarının istenilen kombinasyonda ve sayıda kullanılabilmesini ve yatay ve dikey eksendeki hareket kabiliyetiyle inceleme anında ışığın incelenecek nesneye geliş açısının ayarlanabilmesini sağlayan hareketli aydınlatma panelleri; prob ucu içerisine dizilmiş spektrometre optik fiber uçlarının incelenecek nesne yüzeyine 1 mm mesafeye kadar yakınlaştırılarak endoskopik kameralar aracılığıyla ölçüm alınacak hedef noktaya hatasız bir şekilde konumlandırılmasını ve bu sayede yüksek doğruluk ve kesinliğe sahip, parazitik etkilerden arındırılmış, gürültüsüz ölçüm alınmasını sağlayan bir spektroskopik ölçüm modülü; renkli ve siyah -beyaz kamera modülleri, yüksek optik yakınlaştırma kapasitesine sahip lens sistemi, lineer optik filtre ve bunların birbirlerine göre hizalanmasını sağlayan hareket mekanizmalarına sahip hareketli görüntüleme sistemi içermektedir. Birçok dar dalga boyu bandı kullanılarak elde edilen görüntüler içerisindeki her bir piksele ait spektral bilgi, cihazın bağlı olduğu bir bilgisayardaki hiperspektral görüntü analiz yöntemleri, örüntü tanıma algoritmaları, makine öğrenmesi ve derin öğrenme algoritmaları kullanılarak işlenmekte ve görüntülerden istenilen bilginin ortaya çıkarılması, nesnenin tanımlanması, sınıflandırılması ve anomali (aykırılık) tespiti yapılabilmektedir. TR 2020 08917 A2
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.