Mutlak bir ölçekteki farklılıkları ölçebilen bir yapay görme sistemi açıklanır. Yapay görme sisteminde bir referans nesnesi, koordinat ölçüm makinesi gibi bir referans ölçüm düzeneği kullanılarak doğru bir şekilde ölçülür. Ölçümde belirlenen bir dizi sanal nokta ölçülür. Referans ölçümü, belirlenmiş bir koordinat matrisi ile daha sonra yapay görme ölçümlerinden mutlak ölçek değerlerinin hesaplanması için kullanılan referans ölçüm sonuçları arasındaki bir sapma matrisinin hesaplanması için kullanılır.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.