Mevcut buluşta, en azından ön-ölçüm ve ölçüm-sonrası istasyonlara sahip prosesin kontrol edilmesi için bir yöntem ortaya konmakta olup, söz konusu yöntem, aşağıdaki adımları içermektedir: bir birinci istasyon olan bir ön-ölçüm istasyonunda bir iş parçası üzerinde prosesten önce ön-ölçüm değerlerinin verilerinin, bir ikinci istasyon olan bir proses istasyonunda iş parçası işlendikten sonra proses değerlerinin verilerinin ve bir dördüncü istasyon olan bir ölçüm-sonrası istasyonda test değerleri olarak ölçüm-sonrası değerlerinin toplanması ve iş parçasının tipine göre bir veri tabanına verilerin kaydedilmesi, çıktının, “#&Δ#&”#& olarak tanımlanması, burada, “#&Δ#&=ölçüm sonrası test değeri-hedef ayar değeridir”#& ve önölçüm istasyonundan ve proses istasyonundan toplanan girişlerin tanımlanması, giriş verilerini kullanan bir yazılım programıyla makine öğrenme algoritmalarının kullanılmasıyla “#&Δ#&”#&nın Al modellenmesi, proses istasyonunun hedef ayar değerinin ayarlanması. TR 2021 021744 A1
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.