Patent Sorgulama Rehberi

e-Devlet Kapısı’na giriş yaparak Kurumlar menüsünden Türk Patent ve Marka Kurumu’nu seçin. Patent ve Faydalı Model başlığındaki arama veya başvuru sorgulama hizmetine tıklayın. EPATS’a yönlendirmeyi onayladıktan sonra arama ekranında anahtar kelime, başvuru numarası, IPC sınıfı ve tarih gibi…

Devamını oku

Hayır. e-Devlet girişli TÜRKPATENT modülü ve kamuya açık bülten-arama ekranları, patent ve faydalı model dosyalarını birlikte listeler. Fark, prosedür akışındadır. Faydalı modelde inceleme aşaması bulunmaz, bu nedenle ekranda incelemeye ilişkin satırlar yerine şekli inceleme, yayın ve belge…

Devamını oku

Faydalı model başvurularında da araştırma safhası bulunduğundan, başvuru öncesi patent sorgulama yapmak yararlıdır. Özellikle küçük iyileştirmelerde en yakın tekniği görmek ve istemlerin sade anlatımı için ön tarama kritik fayda sağlar. Araştırma bulgularına göre talep kapsamını daraltmak, gereksiz…

Devamını oku

Başlıca kaynaklar Espacenet, WIPO PATENTSCOPE ve Google Patents’tir. Bunlar IPC ve CPC sınıflarıyla filtreleme, aile bilgileri ve atıf ilişkilerini izleme imkanı verir. Türkiye’de yayınlanan dokümanlar için TÜRKPATENT bülten ve kayıtları da taranmalıdır. Tek bir veri tabanına bağlı kalmak yerine,…

Devamını oku

TÜRKPATENT ve bazı uluslararası veri tabanlarında temel marka sorgulama işlemleri ücretsiz yapılabilir. TMview ve WIPO Global Brand Database gibi kaynaklar, temel kelime ve görsel aramalar için erişim sağlar. Bu taramalar, ön inceleme ve rakip portföy görünümü elde etmek için yeterli bir başlangıç…

Devamını oku

Evet, başvuru, yayın veya patent numarası biliniyorsa ilgili veri tabanındaki numara alanı kullanılarak doğrudan arama yapılabilir. Ancak aynı dosyayla bağlantılı numaralar, belgenin işlem aşamasına ve yayımlandığı ülkeye göre farklı biçimlerde gösterilebilir. Numaranın boşluksuz, noktalamasız veya…

Devamını oku

e-Devlet Kapısı’na giriş yaptıktan sonra arama kutusuna TÜRKPATENT yazın ve patent ile faydalı model işlemlerini içeren modülü seçin. Burada adına işlem yaptığınız kişi veya şirketle ilişkilendirilmiş başvuruları listeleyebilir, dosya numarasıyla filtreleme yapabilirsiniz. Tebligatlar, evrak ve…

Devamını oku

Geniş kapsamlı araştırma için Espacenet ve WIPO Patentscope başlıca kaynaklardır. Bu platformlar, teknik alan, başvuru sahibi, mucit ve sınıflandırma kodlarına göre arama olanağı sunar. EPO Register ve Global Dossier aile dosyalarını ve işlemsel tarihçeyi görmeye yardımcı olur. Türkiye odaklı…

Devamını oku

Hayır, iki araştırma farklı konulara yönelir. Patent araştırmasında teknik bir buluşla ilgili belgeler incelenirken marka araştırmasında mal veya hizmetleri ayırt eden işaretlere ilişkin kayıtlar taranır. Bir ürünün adını aramak, o ürünün çalışma mekanizmasına ilişkin patent belgelerini bulmak için…

Devamını oku

Patent sorgulama, bir buluşun benzersiz olup olmadığını öğrenmek için yapılan araştırmadır. Patent sorgulaması için mevcut patentleri inceler ve varsa benzer buluşların tespitini yaparız. Bu sayede karşılaşılması öngörülen potansiyel zorluklar ve itirazlar hakkında önemli bilgiler toplarız. Patent…

Devamını oku

Süre, teknik alanın genişliği, doküman yoğunluğu ve aramaya ayrılan kaynaklara göre değişir. Basit alanlarda kısa bir keşif ve yakınlaştırma turu yeterli olabilirken, çok disiplinli konular daha fazla yineleme gerektirebilir. Kademeli bir plan kurmak yararlıdır. Önce keşif araması ile haritalama…

Devamını oku

Numarayı bilmiyorsanız başvuru sahibi resmi unvanı, buluş sahibi adı, buluş başlığındaki anahtar kelimeler veya IPC sınıflarıyla arama yapın. Sonuç listesini tarih, başvuru sahibi veya sınıflara göre daraltarak doğru kayda yaklaşabilirsiniz. Bulduğunuz kaydın bibliyografik kısmından başvuru ve…

Devamını oku

Araştırmada benzer belge bulunmaması, buluşun kesin olarak yeni olduğunu kanıtlamaz. İlgili teknik çözüm farklı kelimelerle açıklanmış, başka bir sınıflandırmada yer almış veya araştırılan veri tabanının kapsamı dışında kalmış olabilir. Henüz yayımlanmamış başvurular da araştırma sonuçlarında…

Devamını oku

TÜRKPATENT, WIPO ve EPO gibi kurumların çevrim içi veri tabanlarında temel araştırmalar ücretsiz yapılabilir. Kullanıcılar anahtar kelime, başvuru sahibi, buluşçu, belge numarası, tarih veya sınıflandırma kodu üzerinden yayımlanmış kayıtlara erişebilir. Görüntülenebilen belgeler ve arama…

Devamını oku

TÜRKPATENT’in kamuya açık araştırma hizmeti, Espacenet ve WIPO PATENTSCOPE üzerinden temel kayıt aramaları ücretsiz yapılabilir. Bir başlık, başvuru sahibi veya belge numarasıyla araştırma yapmak için patent başvurusu yapmanız gerekmez. Bu erişim, bulunan belgelerin teknik kapsamı veya hukuki…

Devamını oku

TÜRKPATENT'in kamuya açık araştırma ekranından patent kayıtlarını incelemek için sorgu başına ücret ödemezsiniz. Bu erişim, devralacağınız hakkın teknik ve hukuki açıdan değerlendirilmesini kapsamaz. Belge temini, sicil sureti ve devir kaydı gibi işlemlerde ilgili resmi ücret kalemleri gündeme…

Devamını oku

Başvuru öncesi patent sorgulama zorunlu değildir. Ancak yenilik ve buluş basamağı açısından riskleri görmek, istem taslağını isabetli kurmak ve bütçeyi doğru planlamak için yaygın biçimde uygulanır. Pratikte başarısız bir aramadan ziyade, eksik bir arama daha maliyetlidir. TÜRKPATENT’in resmi…

Devamını oku

Ön patent sorgulama gayriresmi, başvuru öncesi veya paralel yapılan bir çalışmadır ve strateji kurmaya yarar. Kullandığınız veri tabanları ve yöntem size aittir, kapsamını siz belirler ve sonucu başvuru tasarımında kullanırsınız. TÜRKPATENT araştırma raporu ise resmi bir belgedir, dosyanızdaki…

Devamını oku

Evet. TÜRKPATENT’in herkese açık bülten ve arama ekranlarında yayınlanmış başvuruların temel bilgilerine ücretsiz erişebilirsiniz. Başvuru numarası, başlık, başvuru sahibi ve yayın tarihi gibi verileri görüntüleyebilirsiniz. Bu ekranlar, rakip ve sektör izleme amacıyla da kullanışlıdır. Bülten…

Devamını oku

TÜRKPATENT'in çevrim içi araştırma sistemi üzerinden bilinen bir kayda başvuru veya belge numarasıyla ulaşılabilir. Numara bilinmiyorsa buluş başlığı, başvuru sahibi, buluşçu, tarih ve sınıflandırma gibi alanlar kullanılabilir. Teknik benzerlik araştırmasında ürünün marka adı yerine işlevini,…

Devamını oku

Hayır, tek başına veri tabanı sorguları FTO sonucunu garanti etmez. FTO, yürürlükteki hakların istem kapsamı ile ürününüzün teknik özelliklerinin eşleştirildiği, yargı bazlı ve uzmanlık gerektiren bir süreçtir. Kamu verisi yalnızca başlangıç sinyallerini sağlar. Riskli alanları işaretlemek ve…

Devamını oku

Önce anahtar kelimeler ile IPC ya da CPC sınıflarını birleştirerek kapsayıcı bir sorgu kurulur. Yayın veya başvuru tarihine göre dönemsel sayımlar çıkarılır, ardından başvuru sahibi, ülke ve sınıf dağılımları analiz edilir. Hacim ve hız göstergeleri eğilimin yönünü ortaya koyar. Sonraki adımda atıf…

Devamını oku

Kamuya açık patent ve faydalı model verileri üzerinde arama yapmak ve temel dokümanları görüntülemek genellikle ücretsizdir. e-Devlet ile giriş, kimliğinizi doğrulayarak yetki kapsamınızdaki dosyalar için daha ayrıntılı erişim sağlar. Ücretsiz erişim sınırları kamu verisiyle sınırlıdır. Resmi…

Devamını oku

Yayımlanmış patent ve faydalı model kayıtlarının temel taraması genellikle kamuya açık arayüzler üzerinden yapılır. Basit ve gelişmiş arama, bibliyografik bilgiler ve çoğu durumda PDF görüntüleme bu katmanda mevcuttur. Bu seviye, keşif ve ön analiz için yeterli veri sağlar. Resmi işlemler, başvuru…

Devamını oku

TÜRKPATENT’in kamuya açık arama ekranları üzerinden yapılan patent sorgulama işlemleri ücretsizdir. Yayına çıkmış dosyaların bibliyografik bilgileri ve çoğu belge kamuya açık görüntülenir. Araştırma Raporu ve yayınlanmış İnceleme Raporları genellikle bu kapsamda PDF olarak indirilebilir. Yayın…

Devamını oku

Kamuya açık veri tabanlarında kendi araştırmanızı yapmak için patent vekili tutmanız gerekmez. Buluşla ilgili teknik kelimeleri, bildiğiniz başvuru numaralarını veya başvuru sahibi adlarını kullanarak erişime açık kayıtları inceleyebilirsiniz. Bu çalışma, hangi belgelerin konunuzla ilişkili…

Devamını oku

Uluslararası başvurular ve farklı ülkelerde yayımlanan patent belgeleri WIPO PATENTSCOPE, EPO Espacenet ve ilgili ülkelerin ulusal patent ofisi veri tabanlarında araştırılabilir. Bu kaynaklarda anahtar kelime, sınıflandırma, başvuru sahibi, buluşçu ve belge numarası gibi ölçütler kullanılabilir.…

Devamını oku