Sistem Patent
Patent Application

Biyomimikri Yöntemi Kullanılarak Geliştirilen Dijital Görüntüleme Cihazı Kapak Sistemi

Invention Abstract

Buluş; adli bilimler, savunma, analitik kimya, petrokimya, moleküler biyoloji, gıda, tarım, hidroloji, tıp, çevre, ilaç ve medikal gibi pek çok alanda farklı dalga boylarında optik analiz yapılabilmesini mümkün kılan optik bileşenler içeren çok amaçlı dijital görüntüleme cihazlarında optik sızdırmazlığı sağlayarak inceleme sonuçlarının doğruluk ve güvenilirliğini artırmaya ve kullanıcının sağlığını ve güvenliğini korumaya yardımcı olan, ayrıca boyutları büyük veya kalınlığı fazla olan nesnelerin analiz edilmek üzere cihaz içerisindeki inceleme alanına yerleştirildiğinde sıkışma veya deformasyona uğrama riskini azaltarak kullanım kolaylığı ve esnekliği sağlayan bir kapak sistemi ile ilgilidir. Söz konusu kapak sistemi (2); biyomimikri yöntemi ile çene anatomisi referans alınarak geliştirilmiş olup, bir dış kapak parçası (8), dış kapak parçasına içten monte edilmiş bir iç kapak parçası (7), dış kapak parçasından (8) geçen ikinci hareket ekseni (10) etrafında dönme hareketi sağlayarak kapak sistemini (2) konumlandırmak üzere dış kapak parçasına (8) monte edilmiş en az bir menteşe (11), iç kapak parçasından (7) geçen birinci hareket ekseni (9) etrafında dönme hareketi sağlayarak kapak sisteminin (2) kapanması sırasında kapak hareketini yavaşlatıp inceleme alanının (3) üzerine daha yavaş konumlandırılmasını sağlamak üzere iç kapak parçasına (7) bağlantı yuvalarından (14) geçen bağlantı elemanları vasıtasıyla monte edilmiş yavaşlatıcı redüktör (12) ve kapak stoperi

IPC Classes
B65D 43/00
Parties
Applicant
Türkiye Bilimsel Ve Teknolojik Araştırma Kurumu (Tübitak) Atatürk Bulvarı No:221 Kavaklıdere Çankaya Ankara Türkiye
Inventor
Cihan Kılıç Turgay Özkan Yakup Gülmez Mustafa Duman

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.