Buluş, manyetik kalkanlama özelliği kazandırılmış nikel alaşımların, yüksek manyetik alan altında fiber optik sensörlerden oluşan interferometrik bir sistemi kullanılarak malzemeye zarar vermeden manyetik alan geçirgenliği verim karakterizasyonunun yapılabilmesini sağlayan kalkanlama karakterizasyonu için bir test düzeneği ve yöntem ile ilgilidir. TR 2023 016384 A1
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.