Sistem Patent
European Patent (TR Translation)

Bir Senaryonun Yüzey Deformasyonlarının İzlenmesine Yönelik Yöntem Ve Aparat

Invention Abstract

Diferansiyel interferometri tekniği aracılığıyla bir senaryonun yüzey deformasyonlarının izlenmesine yönelik yöntemdir, söz konusu yöntem şu adımları içerir: radar sinyallerinin iletimi ve edinimi için düzenlenmiş en az bir verici anten ve bir alıcı anten içeren bir radar sensörünün önceden düzenlenmesi, söz konusu radar sensörü, merkezi (0) olan bir düzlemsel yörünge (y) boyunca hareket edecek şekilde düzenlenir; söz konusu merkezde (0) orijini bulunan bir referans sistemin (S) tanımlanması; söz konusu radar sensörünün söz konusu düzlemsel yörünge (y) boyunca taşınması aracılığıyla SAR tekniği ile söz konusu senaryonun elde edilmesi, söz konusu radar sensörü söz konusu antenlerin ışıma modeli söz konusu merkeze (0) göre radyal olarak yönlendirilecek şekilde yapılandırılır, söz konusu edinim söz konusu yörünge (y) üzerinde düzenlenmiş edinim noktalarında (s i) gerçekleştirilir ve her edinim noktası (s i) için çok sayıda veri elde edilir; - söz konusu senaryonun çok sayıda hedef noktasının (t i) tanımlanması, her bir hedef noktanın (t i) üç boyutlu konumu söz konusu referans sisteme (S) atıfta bulunan küresel koordinatlar (ρ , θ i, β i) aracılığıyla tanımlanabilir, söz konusu koordinatların değerleri (ρ ve θ i) bilinir. Yöntem ayrıca, önceden belirlenmiş ve ß 0'a eşit bir ß i değeri göz önünde bulundurularak her bir hedef noktanın (t i) kendi konumuna göre bir birinci edinim yüksekliğinde (h a 1) odaklanması, önceden belirlenmiş ve ß 0'a eşit bir ß i değeri göz önünde bulundurularak her bir hedef noktanın (t i) kendi konumuna göre bir ikinci edinim yüksekliğinde (h a 2 &#8800#& h a 1) odaklanması, interferometrik teknik aracılığıyla edinim yüksekliklerinde (h a 1 ve h a 2) söz konusu odaklamaların kontrol edilmesi ve her bir hedef nokta için söz konusu koordinatın (ß i) bir değerinin elde edilmesi adımlarıyla söz konusu hedef noktaların (t i) üç boyutlu olarak belirlenmesi adımını içerir. Yöntem ayrıca, her bir hedef noktanın (t i) söz konusu küresel koordinatlar (ρ , θ i, β i) ile tanımlanabilen kendi üç boyutlu konumuna göre küresel olarak odaklanması ve bir birinci odaklanmış radar verisi elde edilmesi adımını sağlar, söz konusu odaklama adımı her bir hedef nokta (t i) için her bir edinim noktasında (s i) elde edilen verilerin analiz edilmesiyle elde edilir, burada söz konusu hedef nokta (t i) tespit edilebilirdir.

IPC Classes
G01S13/90
Parties
Inventor
Alberto Mıchelını Francesco Coppı
Rights Holder
Ids Georadar S.R.L. Vıa Carduccı 32 20123 Mılano İtalya
Attorney
Filiz Ark (Mumcuoğlu Ve Ark Patent Ve Marka Dan. Ltd. Şti.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.