Sistem Patent
Patent Application

Sıvıların Viskozite Ve Öz Kütle Ölçümü İçin Lenssiz Holografik Mikroskop Entegre Manyetik Levitasyon Platformu

Invention Abstract

Buluş, mikrokapiller kanalda sıvıların viskozite ve öz kütle ölçümü için lenssiz holografik mikroskop entegre manyetik levitasyon platformu ve söz konusu platformun çalışma yöntemi ile ilgilidir. Buluşa konu yöntem, manyetik levitasyon tekniği ile mikroparçacıkları bir çeşit mikrosensör olarak kullanan taşınabilir bir platform içerisinde, çözeltilerin viskozite ve öz kütlesinin ölçümü, bahsi geçen mikroparçacıkların levitasyon hızının ve yüksekliğinin, çözeltinin viskozite ve öz kütlesi ile ilişkilendirilmesi sonucu sağlanmaktadır. Ayrıca, platforma entegre edilen lenssiz holografik mikroskop sayesinde çözelti içerisinde levite olan mikroparçacıkların görüntülenmesi ve işlenmesi de mümkün olmaktadır. TR 2024 018026 A1

IPC Classes
G01N 21/00G01N 21/63G01N 9/04G01N 11/02G01N 21/45G01N 33/543
Parties
Applicant
İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü Rektörlüğü Gülbahçe Mah. Gülbahçe Cad. İyte İzmir Rektörlük 1 -1 Urla İzmir Türkiye
Inventor
Öykü Doyran İnce Hüseyin Cumhur Tekin
Attorney
Tolga Çaylak (Dış Patent Marka Tescil Ve Danışmanlık Hiz. Ltd. Şti.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.