En az bir sekonder hücreyi (110) incelemeye yönelik bir inceleme aparatı (1) açıklanır, inceleme aparatı aşağıdaki unsurları içerir: sabit bir destek parçası (101); hareketli bir parça (102); destek parçası (101) ile hareketli parça (102) arasına yerleştirilmiş basınç parçaları (103), söz konusu basınç parçaları (103) ana eksen (X) boyunca serbestçe hareket edebilir, iki bitişik basınç parçası (103) sekonder bir hücreyi (110) almaya yönelik bir boşluğu (120) tanımlar; ve en az bir sekonder hücre (110) ile temas halinde olan her basınç parçası (103), bir sıcaklık sensörünü (109) içerir, sıcaklık sensörü (109), basınç parçaları (103) arasında bir basınca maruz kalan en az bir sekonder hücrenin (110) sıcaklığını ölçmek üzere tasarlanır. Buluş aynı zamanda en az bir sekonder hücrenin incelenmesine yönelik bir inceleme usulüne ilişkindir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.