Sistem Patent
Patent Application

Havuç Posasından Ultrases Ve Otoklavlama Destekli Mikrokristalin Selüloz Ekstraksiyonu

Invention Abstract

Bu buluş, tarımsal kökenli lignoselülozik atıkların çevre dostu ön işlem basamaklarıyla işlenmesi suretiyle mikrokristalin selüloz (MCC) üretimine ilişkin olup; gıda, ilaç, kozmetik, tekstil, ambalaj, kimya ve biyomalzeme endüstrilerinde katkı maddesi veya fonksiyonel bileşen olarak kullanılmaya uygun MCC elde edilmesini sağlayan bir yönteme ilişkin olup, özelliği; hemiselüloz fraksiyonunu uzaklaştırmak amacıyla karışımın otoklav işlemine tabi tutulması ve santrifüj edilmesi, santrifüj sonrası dibe çöken katı tortu üzerine NaOH ilave edilerek karıştırma işlemine tabi tutulması ve ardından çözeltinin santrifüj edilmesi, delignifiye edilen selüloza ağartma işlemi için CH3CaOH/NaClO çözeltisi ilave edilerek karıştırılması, ağartma işlemi uygulanan selüloz çözeltisinin saf su ile seyreltilerek kaba filtre kağıdından geçirilmesi, kaba filtre kağıdı üzerinde kalan katı tortunun alınarak H2O2 çözeltisi ve 0.5 ml konsantre H2SO4 ilave edilerek karıştırılması, karışımın ultrases tekniği ile ultrasonik banyoda depolimerizasyon işlemine tabi tutulması ve çözeltinin santrifüj edilmesi, dipte kalan tortunun pH değeri 7.0 ± 0.5 olana kadar nötralizasyon edilmesi ve ardından santrifüj edilmesi, dipte kalan tortunun kademeli sıcaklık artış değeri ile kurutulması ve kurutma işlemi sonrasında öğütücüde öğütülerek nihai ürünün toz haline getirilmesi ve elekten geçirilmesi ile mikrokristalin selüloz elde edilmesi işlem adımlarını içermesidir. TR 2025 007929 A2

IPC Classes
C08B 15/00D21C 9/00
Parties
Applicant
Togü Bilimsel Araştırma Projeleri Koordinasyon Birimi Gaziosmanpaşa Üniversitesi Kampüsü Mevkii Kampus 2 Sk. 5 Merkez Tokat Türkiye
Inventor
Aslıhan Demirdöven Hilal Meral
Attorney
Gökhan Çimen (Kuantum Patent A.Ş.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.