Sistem Patent
European Patent (TR Translation)

Çok Katmanlı Baskılı Devre Kartları Üretim Yöntemi.

Invention Abstract

Buluş, çok katmanlı baskılı devre kartları üretme yöntemine ilişkin olup, burada ilk olarak, bir montaj işlemi adımı kapsamında, üretilecek baskılı devre kartının birden fazla fonksiyonel katmanı (5) ve en az bir yalıtım katmanı (4), çok parçalı bir aygıtın alt aygıt parçası (2) ile üst aygıt parçası (1) arasında katmanlar halinde düzenlenir ve en az bir ölçüm sensörü, üst aygıt parçası (1) ile alt aygıt parçası (2) arasında, ölçüm sensörünün üretilecek baskılı devre kartının en az bir fonksiyonel katmanına (5) ve/veya yalıtım katmanına (4) dayanacak şekilde konumlandırılır, ardından, bir montaj işlemi adımı kapsamında, birden fazla fonksiyonel katmana (5) ve en az bir yalıtım katmanına (4) sahip olan aygıt ve ölçüm sensörü bir termokompresyon odasına (20) yerleştirilir ve ardından, yine bir üretim işlemi adımı kapsamında, birden fazla fonksiyonel katmana (5) ve en az bir yalıtım katmanına (4) sahip olan üst aygıt parçası (1) ve alt aygıt parçası (2) ve termokompresyon haznesindeki (20) ölçüm sensörlerine bastırılır ve ısıtılır ve ölçülen değerler sensör ile tespit edilir. Ölçülen değerler ve/veya bunlardan elde edilen veriler, devam eden üretim süreci adımı sırasında bir üretim kontrol cihazına (13) iletilir ve devam eden üretim süreci adımını izlemek ve/veya devam eden üretim süreci adımını, sensörün ölçülen bir değişkeni için belirtilen bir değere referansla kontrol etmek amacıyla üretim kontrol cihazı (13) tarafından işlenir. Şekil 1

IPC Classes
B32B41/00B32B38/00B32B15/20B32B37/00B32B39/00B32B27/06B32B37/06H05K3/46B32B27/14B32B37/18H05K13/08
Parties
Inventor
Ulrich Rotte
Rights Holder
Ulrıch Rotte Anlagenbau Und Fördertechnık Gmbh Brockensklee 32 33154 Salzkotten Almanya
Attorney
Fulya Sümeralp (Simaj Patent Dan. Ltd. Şti.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.