Sistem Patent
Patent Application

Toprak Sıkışma Ve Ağaç Kök Gelişimi Takip Edebilen Sensör Kazığı Sistemi

Invention Abstract

Buluş, tarım, ormancılık ve bahçecilik faaliyetlerinde bitki kök gelişimi, su geçirgenliği, havalanma ve besin elementlerinin ulaşılabilirliği üzerinde önemli etkileri bulunan toprak kompaksiyonunun (sıkışmanın) uzun süreli olarak ölçmek ve takip etmek amacıyla kullanılan sistem ile ilgilidir. TR 2025 015408 A2

IPC Classes
E02D 1/00
Parties
Applicant
Murat Yavuz İbrahim Abbas Kılıç Ali Bozkurt Arif Yağcı Harun Zencirci Ömer Fatih Keskin Hasan Yıldırım İzzet Yazar Metin Bestil Osman Işık Kemal Kiper Ertuğrul Bayır Ali Büyükkaba Yunus Emre Türkmen Yasin Arık Sedat Şahin Seyit Ali Arslan Murat Sadık Bulgurcu Hacer Durmuş Ziya Dağlı Yunus Emre Koyuncu Gülden Bay Çolakoğlu Abdullah Koçman Mehmet Turan Süleyman Evcil Hasan Sönmez Arif Akıner Hamza Dinç Mehmet Akif Savran Ali Uluer Yunus Emre Dağ Fatih Durmuş Büşra Engin Özel Ömer Erçin Yusuf Maraş Engin Özel Ayşe Göz Ali Güllü Alper Tuncel Serdar Ünal Gülşah Yılmaz Melike Alan Zübeyir Karadağ Mehmet Erdal Elvan Şen
Inventor
Murat Yavuz Elvan Şen Ali Bozkurt Arif Yağcı Harun Zencirci Ömer Fatih Keskin Hasan Yıldırım İzzet Yazar Metin Bestil Osman Işık Kemal Kiper Ertuğrul Bayır Ali Büyükkaba Yunus Emre Türkmen Yasin Arık Sedat Şahin Seyit Ali Arslan Murat Sadık Bulgurcu Hacer Durmuş Ziya Dağlı Yunus Emre Koyuncu Gülden Bay Çolakoğlu Abdullah Koçman Mehmet Turan Süleyman Evcil Hasan Sönmez Arif Akıner Hamza Dinç Mehmet Akif Savran Ali Uluer Yunus Emre Dağ Fatih Durmuş Büşra Engin Özel Ömer Erçin Yusuf Maraş Engin Özel Ayşe Göz Ali Güllü Alper Tuncel Serdar Ünal Gülşah Yılmaz Melike Alan Zübeyir Karadağ Mehmet Erdal İbrahim Abbas Kılıç
Attorney
Mehmet Küçüktekin (Denklem Patent Limited Şirketi)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.