Bu buluş, farklı ölçülerdeki biyellerin (A) hassas yüzey ölçümü ve kontrolünü, gövdenin (2) rotasyonel hareketi sonucunda oluşan farklı eksenler (X) boyunca ileri geri hareket ederek biyelin (A) yatay eksende tercih edilen bir mesafede konumlandırılması ile sağlayan bir ölçüm aparatı (1) ile ilgilidir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
