444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menu
Patent Application

Fotonik Cihazların Jonksiyon Sıcaklığını Ölçmek İçin Tercih Edilen Bir Sistem.

Invention Abstract

Bir fotonik cihazın jonksiyon sıcaklığını ölçmek için bir sistem olup, a) içerisine test edilecek bir fotonik cihazın yerleştirildiği bir test odası (1), b) en az bir ısıtıcı (2), c) en az bir sıcaklık sensörü (3), d) belirtilen sıcaklıkta karşılık gelen ileri gerilim değerini okumak için fotonik cihaza bir tahrik akımı uygulamak üzere yapılandırılan bir kaynak ölçer (5), e) bir güç kaynağı (4), f) bir kontrol sistemi (6) ve g) önceden tanımlanmış varsayılan ayarlarla veya kullanıcı tarafından girilen ayarlarla ölçümleri başlatmak ve kontrol etmek üzere yapılandırılan bir yazılım (7) içermektedir. TR 2021 010395 T

IPC Classes
G01K 7/01G01K 15/00
Parties
Applicant
Özyeğin Üniversitesi Nişantepe Mah. Orman Sk. No: 34 -36 Çekmeköy İstanbul Türkiye
Inventor
Ahmet Mete Muslu Mehmet Arık Enes Tamdoğan Burak Özlük
Attorney
Erkan Sevinç (İstanbul Patent A.Ş.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.