444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

Bir Lazer Işınının Bir Odak Konumunun Saptanmasına Yönelik Yöntem Ve Cihaz.

Invention Abstract

Buluş, bir yöntem ve odak noktasına (20) doğru yakınlaşan bir lazer işleme ışını (12) içinde düzenlenmiş, lazer ışını güzergahından bir yansımanın (30) ayrıştırılmasına yönelik bir optik eleman (26), ve lazer işleme ışınının (12), odak noktası (20) bölgesinde kendi yayınım yönü boyunca ışın özelliklerinin belirlenmesi için, lazer işleme ışınının (12) ayrıştırılmış geri yansımasını (30) güncel odak konumunun belirlenmesine yönelik olarak ışın yayınımı yönü boyunca en az iki farklı yerde ölçmek için düzenlenmiş bir sensör düzeneğine (36) sahip, bir lazer ışınının, özellikle bir lazer işleme kafasının (10) içindeki bir lazer işleme ışınının bir odak konumunun saptanmasına yönelik bir cihaz ile ilgilidir.

IPC Classes
G01J1/42G01J1/04
Parties
Inventor
David Blázquez-Sánchez Georg Spörl Florian Opıtz Niklas Weckenmann
Rights Holder
Precıtec Gmbh & Co. Kg Draısstrasse 1 76571 Gaggenau-Bad Rotenfels Almanya
Attorney
Nevzer Alperten Özcan (Alpim Patent Marka Danışmanlık Ltd. Şti.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.