Şeffaf malzemeden yapılmış bir nesnenin yüzeyinin ve/veya en az bir yüzeyinin veya onun bir kısmının şeklinin, bir ışık kaynağı, bir sensör ve sensöre bağlı bir işleme ünitesi içeren bir kontrol sistemi vasıtasıyla kontrol edilmesine yönelik yöntemdir. Işık kaynağının ve sensörün uygun şekilde konumlandırılmasıyla, çoklu yansıma probleminin aşılması ve kontrol edilecek yüzeyden saçılan ve sensör tarafından alınan, kontrol amaçları için faydalı ışınların eşsiz bir şekilde tanımlanması mümkün olur. Düzeneklerden birine göre kontrol edilecek nesnenin kalınlığının belirlenmesi de mümkündür.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
