444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

Yüksek Frekansta Deplasman Ölçüm Düzeltmesi.

Invention Abstract

Buluşun bir yönü, bir test numunesine (12) yük uygulamaya yönelik bir test sistemidir (10). Test sistemi (10) bir aktüatör (14) ve aktüatörü (14) destekleyen bir birinci destek kısmını (15) içerir. Aktüatör (14), test numunesinin (12) bir birinci ucunu desteklemek üzere konfigüre edilirken, bir ikinci destek kısmı (13) test numunesinin (12) bir ikinci ucunu desteklemek üzere konfigüre edilir. Çeşitli yapılandırmalarda, deplasman sensörü ve/veya ivmeölçer(ler) içerebilen sensörlerin kombinasyonu, test numunesinin (12) birinci ucu ile ikinci ucu arasındaki diferansiyel deplasmanı gösteren bir deplasman çıkış sinyali sağlamak üzere konfigüre edilen bir deplasman kompansatörü (50; 50'; 60) tarafından alınan ilişkili çıkış sinyalleri sağlar.

IPC Classes
G01N3/32
Parties
Inventor
Brian Robert Kerr John Byron Saarı
Rights Holder
Mts Systems Corporatıon 14000 Technology Drıve Eden Praırıe, Mn 55344-2290 A.B.D.
Attorney
Erkan Sevinç (İstanbul Patent A.Ş.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.