Bir hacimsel numunenin birden fazla derinliğinden görüntü verilerinin eşzamanlı yakalanmasına olanak vermek için bir yeni usul açıklanmıştır. Usul, numunede edinim derinliği anında değiştirilirken, bir 2D veya 3D görüntünün kesintisiz edinilmesine olanak sağlar. Bu usul, otomatik odaklama için de kullanılabilir. Ek olarak, numuneden görüntü verilerinin yakalanması için bu usul, Şekil 2'de betimlendiği gibi bir eğik konfigürasyon kullanıldığında, özellikle numunelerin 2D veya 3D görüntülenmesiyle ilgili belirtilen amaç için hız ve ışık duyarlılığı açısından optimal etkinlik sağlar. Usul, özellikle bir dikgen XY koordinat sisteminde piksellerin bir 2D dizisini içeren bir görüntüleme sensörü ile kullanılabilir; burada elektronik devreler için boşluklar mevcuttur. Başka görüntüleme sensörü de kullanılabilir. Ayrıca usulü otomatik olarak yürüten bir görüntüleme cihazı sunulmuştur.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
