Sistem PatentSistem Patent
Menu
İncelemeli Patent

Yeni Nesil Nükleik Asitler İle Tek Nokta Mutasyon Tayinine Yönelik Empedimetrik Bir Yöntem

Invention Abstract

Bu buluş, fermuar (zip) nükleik asitler (ZNA) olarak adlandırılan yeni nesil nükleik asitler kullanılarak nanomalzeme modifiye tekli ve çoklu ölçüm sistemlerine dayalı kullan-at biyosensörler vasıtasıyla tek nokta mutasyonunun tayinine yönelik empedimetrik bir yöntem ile ilgilidir. Buluş konusu yöntem, hedef nükleik asit dizisi ve onun eşleniği olan Zip Nükleik Asit (ZNA) probu arasında gerçekleştirilen nükleik asit hibridizasyonunun empedimetrik tayinini içermektedir.

IPC Classes
C12Q 1/68
Parties
Inventor
Ece Ekşin K. Arzum Erdem Gürsan
Rights Holder
K. Arzum Erdem Gürsan
Attorney
Zeliha Özsoy (3 Tek Patent Marka Danışmanlık A.Ş.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.