Bir spektroskopik alet (38), birinci optik bileşen (48) üzerine çarpan polikromatik ışık demetinin (46) uzaysal olarak spektral olarak kırılmasına yönelik bir birinci optik bileşen (48), kırılan ışık demetinin (46a, 46b, 46c) çeşitli spektral bölgelerini (B1, B2, B3) ayrı uzaysal bölgelere (52a, 52b, 52c) yönlendiren bir objektif (50) ve birçok ışığa duyarlı sensör elemanı (54a, 54b, 54c) olan, ışık demetinin (46a, 46b, 46c) demet yolundaki objektifin (50) altında konumlandırılan bir sensör (54) içerir. Sensör elemanları (54a, 54b, 54c), her bir sensör elemanının (54a, 54b, 54c) ışık demetinin (46) bir spektral kesiminin (A1, A2, A3) yoğunluğunu kaydedeceği ve spektral kesimlerin (A1, A2, A3) medyanlarının (Mk1, Mk2, Mk3) k-aralığında birbirine göre eşit mesafede konumlandırılacağı şekilde kırılan ışık demetinin (46a, 46b, 46c) demet yolunda düzenlenir, burada (k) dalga sayısını gösterir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
