Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

Manyetik Parçacıklar İle Tayinler İçin Kartuş.

Invention Abstract

Buluş bir sıvı numune içinde hedef bileşenlerin tespit edilemsi için bir kartuş (100) ve bir karşılık gelen sensör cihazı ile ilgilidir. Kartuş (100) bir numune odacığı (SC), manyetik parçacıklar (MP, M') ile donatılabilen en az iki rezervuar (131, 132) ve çözünmüş durumdaki manyetik parçacıkların ve/veya hedef bileşenlerin içinde tespit edilebildiği en az iki duyarlı bölge (121, 122) içerir. Bir verilen konfigürasyondaki bir manyetik harekete geçirme alanı (B) numune odacığında oluşturulduğu zaman, farklı rezervuarların manyetik parçacıkları farklı duyarlı bölgelere baskın olarak göç eder. Böylece, manyetik parçacıkların karışmasından kaçınılır.

IPC Classes
G01N 33/53
Parties
Inventor
Mara J. J. Sıjbers High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda Jeroen H. Nıeuwenhuıs High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda Femke K. De Theıje High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda Petrus J. W. Van Lankvelt High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda
Rights Holder
Konınklıjke Phılıps N.V. High Tech Campus 5, 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Attorney
Tuğba Gündemir (Ankara Patent Bürosu Ltd. Şti.) Bestekar Sok. No:10/12 Kavaklıdere- Çankayaankara

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.