Mevcut buluşun düzenlemeleri, şunları içeren, metal bir hedefin bir mikroyapısını saptamaya yönelik bir elektromanyetik sensörü (400) sağlar: bir uyarım manyetik alanı sağlamaya yönelik bir manyetik cihaz (410, 420); metal bir hedef içinde indüklenmiş ortaya çıkan manyetik bir alanı saptamaya yönelik bir manyetometre (430); ve elektromanyetik sensörü kalibre etmek için bir kalibrasyon manyetik alanı oluşturmaya yönelik bir kalibrasyon devresi (450, 551, 552, 553, 554), burada kalibrasyon referans manyetik alanı, uyarım manyetik alanı tarafından kalibrasyon devresinden indüklenen elektriksel bir akım yoluyla oluşturulur.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
