Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

Görüntü Ve Yapı Kontrolü İçin Harmanlanmış Hava Kalite Parametre Bilgilerini Sağlamak İçin Ortak Sensörlere Sahip Çok Noktalı Hava Örnekleme Sistemi.

Invention Abstract

Tek geçişli kritik ortamlarda kullanılan seyreltici hava akımı kontrol sistemi şunları içermektedir: bir hava akış hacmi besleme kaynağı; hava akış hacmi kaynağını kritik ortamdan ve bir veya daha fazla boru sayesinde kritik ortamı içeren binadan tamamen boşaltmaya yarayan bir egzoz supabı; kritik ortamdan egzoz hava akış hacmini değiştirmek için bir veya daha fazla borunun içinde sağlanan en az bir adet hava akış kontrol cihazı; kritik ortama ait en az bir hava kirleticiyi algılayan en az bir hava kirletici sensörü içeren bir tesis gözlem sistemi; algılanan en az bir hava kirleticiye en azından kısmen dayanarak bir veya daha fazla hava akımı talimatı oluşturan bir sinyal işlem kontrolörü ve hava akımı talimatı sinyalini kritik ortam kaynağını en azından kısmen kontrol etmek ve hava akış hacmini boşaltmak için kullanan bir kritik ortam hava akımı kontrolörü içeren bir veya daha fazla tek geçişli kritik ortam.

IPC Classes
F24F 11/00G01F 23/00
Parties
Inventor
Gordon P. Sharp Newton, Ma 02468 A.B.D. Erıc M. Desrochers Millis, Ma 02054 A.B.D.
Rights Holder
Aırcuıty Incorporated Newton, Ma 02458 A.B.D.
Attorney
Fulya Sümeralp (Simaj Patent Ltd. Şti.) Tunus Cad. No:46 Kat:2 Kavaklıdere/Ankara

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.