Başvuru bir taşıyıcının (10) temas yüzeyindeki (12) bir inceleme bölgesinde (13) optik muayeneler yapmak için bir yöntem ve bir mikroelektronik sensör cihazı ile ilgilidir ve burada, bir girdi ışık ışını (L1, L1') bir ışık kaynağından (20) inceleme bölgesine
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.