Proses ölçümü, ölçülen prosese dayalı olarak çıkış sinyalleri üreten sistemler ve teknikler tarafından gerçekleştirilebilir. Belli uygulamalarda, proses ölçüm sistemleri ve teknikleri, bir manyetik alan oluşturma ve ardışık bir şekilde manyetik alanın yönünü değiştirme yeteneğine sahip olabilir. Sistemler ve teknikler, aynı zamanda, manyetik alanın yönelimi değiştirilirken, bir iletken ve en az iki Wiegand etki iletkeni içeren bir manyetik alan sensörü ile, manyetik alanın en az bir birinci yönelimini algılama kabiliyetine; ve manyetik alanın birinci yönelimi algılandığında, her Wiegand etki iletkeni ile iletkende bir pals üretme kabiliyetine sahip olabilir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
