Bir araç veya obje içinde materyallerin incelenmesine yönelik yöntemler, sistemler ve cihazlar açıklanır. Bir yönde müon tomografili saptamaya yönelik bir sistem, her biri, müon saptama sensörlerinin bir birinci dizisini ve bir ikinci dizisini içeren sırasıyla bir birinci ve ikinci yuva yapısı, ki bu birinci yuva yapısı, bir hedef objeyi barındıracak bir bir saptama bölgesi oluşturmak üzere sabit bir yükseklikte ikincinin karşısına konumlandırılır, buradaki müon saptama sensörleri, birinci dizi içinden saptama bölgesine geçen ve saptama bölgesinden gelerek ikinci dizi içinden geçen müonların konumlarını ve yönlerini ölçer; birinci yuva yapısını sabit bir yükseklikte konumlandırmak için destek yapıları; ve müon saptama sensörlerinden veriler almak ve müonların hedef obje materyalleri içinde yayılma davranışlarını analiz ederek saptama bölgesi içindeki yayılım merkezlerinin tomografik bir profilini veya uzamsal dağılımını elde etme amaçlı bir işleme ünitesi içerir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.