İncelenmiş bir objenin (2) yüzeylerinin (3) denetlenmesi için, yüzeyin (3) en az bir aydınlatma cihazı (8) vasıtasıyla aydınlatıldığı ve en az bir yüzey görüntü sensörü (6) vasıtasıyla kaydedildiği, bir usul ve bir tertibat açıklanmaktadır, burada kaydedilen görüntüler, bir tespit sırasında yüzey anomalilerini hatalı bölgeler olarak belirlemek ve gerekli durumda hatalı bölgeleri birbirine göre veya görüntü arka planına göre bölümlendirme içinde belirlemek, birbirine bağlı olan hatalı bölgeleri bir bölge analizi içinde bir araya toplamak ve/veya hatalı alanlardan veya hatalı bölgelerden bir özellik özütlemesi içinde karakteristik hata özelliklerini türetmek için düzenlenen, bir görüntü analiz cihazına (11) gönderilir, burada yüzey görüntü sensörü (6) üç boyutlu olarak seçilen bir koordinat sistemine (5) göre ayarlanır ve incelenmiş olan obje (2) yüzeyiyle (3) yüzey görüntü sensörüne (6) ilişkin olarak hareket ettirilir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
