Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

Ayrımsal Ölçmeler Üzerine Temellendirilmiş Olarak Bir Otomatik Odaklama Görüntüleme Sistemi İçeren Tarayıcı Mikroskop Sistemi.

Invention Abstract

Mevcut buluş dijital patolojinin alanı ve özellikle, tam slayt tarayıcılar ile ilgilidir. Bir eğilmiş otomatik odaklama görüntü sensörü slaytın bir eğik kesitini görüntüler. Eğilmiş sensör tarafından alınmış bulunan çoklu ardışık birbiri üzerine binen görüntüyü odaklamak için, görüntüler karşılaştırılırlar. Doku katmanının eksenel konumu bu ayrımsal ölçmeden sonuçlanan polar hata sinyalinden belirlenebilir.

IPC Classes
G02B 21/24
Parties
Inventor
Bas Hulsken Phılıps Ip&S - Nl High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda
Rights Holder
Konınklıjke Phılıps N.V. High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Attorney
Tuğba Gündemir (Ankara Patent Bürosu Ltd. Şti.) Bestekar Sok. No:10/12 Kavaklıdere- Çankaya/Ankara

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.