Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

Optik Analiz Sistemi Ve Yöntemi.

Invention Abstract

İçinde bir numunenin bir ışık kaynağı kullanılarak analiz edildiği bir optik analiz sistemi ve yöntemi sağlanır. Bir optik sensör sinyali bir birinci sinyal işlemden geçirme devresi kullanılarak işlemden geçirilir ve ışık kaynağına uygulanmış bir sürüş sinyalinin temsili olan bir elektrik sinyali bir ikinci sinyal işlemden geçirme devresi kullanılarak işlemden geçirilir. Sensör sinyali bir referans olarak işlemden geçirilmiş elektrik sinyali kullanılarak sinyal-gürültü oranını geliştirmek üzere ilave olarak işlemden geçirilir.

IPC Classes
A61B 5/026A61B 5/024A61B 5/1455A61B 5/00
Parties
Inventor
Koen Geenen High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda Alphonsus Tarcısıus Jozef Marıa Schıpper High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Rights Holder
Konınklıjke Phılıps N.V. High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Attorney
Tuğba Gündemir (Ankara Patent Bürosu Anonim Şirketi) Kavaklıdere Mah. Bestekar Cad. No:10/1 Kavaklıdere- Çankaya/Ankara

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.