İçinde bir numunenin bir ışık kaynağı kullanılarak analiz edildiği bir optik analiz sistemi ve yöntemi sağlanır. Bir optik sensör sinyali bir birinci sinyal işlemden geçirme devresi kullanılarak işlemden geçirilir ve ışık kaynağına uygulanmış bir sürüş sinyalinin temsili olan bir elektrik sinyali bir ikinci sinyal işlemden geçirme devresi kullanılarak işlemden geçirilir. Sensör sinyali bir referans olarak işlemden geçirilmiş elektrik sinyali kullanılarak sinyal-gürültü oranını geliştirmek üzere ilave olarak işlemden geçirilir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.