Buluş parametrelerin ölçülmesi veya demir veya çelik eriyikten numune alımı ayrıca demir veya çelik eriyikte bulunan cüruftan numune alımı için daldırma ve yan çevre yüzeyi bulunan, daldırmasına bir daldırma ve yan çevre yüzeyi bulunan ölçüm kafası yerleştirilmiş olan taşıyıcı borulu düzenekle ilgilidir; burada ölçüm kafasının daldırmasında düzeneğin içinde bulunan numune bölmesi için en az bir sensör veya giriş deliği yerleştirilmekte ve bir giriş kanalı üzerinden taşıyıcı borunun içine yerleştirilen ön bölmeye geçen taşıyıcı borunun yan çevre yüzeyine veya ölçüm kafasına bir giriş deliği yerleştirilmekte ve ön bölmenin daldırmaya dönük tarafında düzeneğin içine yerleştirilen cüruf numune bölmesine geçtiği ön bölmede ölçüm kafasının daldırmasına dönük ucunda bir giriş deliği bulunmaktadır.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
