Bir parça üretilirken ve/veya işlenirken, bu parçanın (300) tahribatsız test edilmesine yönelik yöntemler ve sistemler sağlanmıştır. Bir parça, parçanın bir veya daha fazla diğer bileşenine (302) bağlanmış ve içerisine gömülmüş hibrit spektral sensörlere (200) sahiptir. Bu parça bir kompozit parça (300') olabilir. Bir hibrit spektral sensör iki farklı yapı içerebilir. Bu sensörün birinci yapısı, bir uyarılma radyasyonuna maruz kaldığında bir birinci spektral tepki sağlamaktadır. İkinci yapı, birinci yapı etrafında bir Faraday kafesi oluşturur ve birinci yapıya uyarılma radyasyonunu bloke eder ve/veya birinci yapı radyasyonla uyarılmaya maruz kalmışsa, birinci yapı tarafından yayılan birinci spektral tepkiyi bloke eder. İkinci yapı, bir matris reçine gibi parçanın bir veya daha fazla bileşenine bağlanabilir ve parçanın üretilmesi ve/veya işlenmesi sırasında, birinci yapıyı kaplama özelliklerini, bu suretle bloke etme özelliklerini değiştirebilir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
