Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

İşletimsel Parametrelerin Tespit Edilmesine Yönelik Sensörlere Sahip Emme Rulosu.

Invention Abstract

Bir endüstriyel rulosu bu unsurları içerir: bir dış yüzeye ve bir iç lümene sahip büyük ölçüde silindirik bir kabuk; dış kabuğun dış yüzeyini çevresel olarak kaplayan polimerik bir kapak, burada kabuk ve kapak, lümen ve atmosfer arasında sıvı iletişimi sağlayan çok sayıda delikten oluşur, açık delikler bir sıra ve kolon dizisi halinde düzenlenir; ve bir algılama sistemi bu unsurları içerir: kapağın içine yerleştirilmiş çok sayıda sensör, sensörler silindirin bir çalışma parametresini algılamak ve çalışma parametresi ile ilgili sinyaller sağlamak üzere yapılandırılır, burada sensörlerin en azından bir kısmı bir açıklık içerir ve burada kapağın deliklerinden bazıları sensörlerin ilgili açıklıklarından uzanır; sensörler tarafından sağlanan sinyalleri işleyen sensörler ile işlevsel olarak ilişkili bir işlemci; ve sensörlerden en az biri ile bağlantılı en az bir sinyal taşıma elemanından oluşur, sinyal taşıyıcı eleman, iki delikten iki sütun arasında yönlendirilen bir birinci segment ve iki delikten geçen iki sıra arasında yönlendirilen bir birinci segment içeren bir ikinci segment.

IPC Classes
B30B 15/00D21F 3/08G01L 5/00B30B 3/04D21F 3/10G01L 5/04G01K 13/08D21G 1/02
Parties
Inventor
Erıc J. Gustafson 119 Cheifton Place Winchester, Virginia 22602 A.B.D. Chrıstopher Mason 34 Fieldstone Drive Bunker Hill, West Virginia 25413 A.B.D. Samuel H. Reaves Iıı 121 Oak Ridge Drive Stephens City, Virginia 22655 A.B.D.
Rights Holder
Stowe Woodward Lıcensco Llc 14101 Capital Boulevard Youngsville, Nc 27596 A.B.D.
Attorney
Tolga Çaylak (Dış Patent Marka Tescil Ve Danışmanlık Hiz. Ltd. Şti.) İçerenköy Değirmenyolu Cad. No:12/7 K:5 Ataşehir/İstanbul

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.