Bir yüksek gerilim cihazındaki (100, 101, 102, 103, 200) bir yalıtımın (2, 3, 32) yaşlanma süreçlerini izlemek için bir yöntem gösterilmektedir. Bu yöntem, yalıtım (2, 3, 32) içinde üretilen bir ışık sinyalinin bir birinci fiberoptik sensörle (20, 21) ölçülmesini ve yalıtıma (2, 3, 32) ait bir mekanik büyüklüğün bir ikinci fiberoptik sensörle (30, 31) ölçülmesini, ayrıca yalıtımın bir yaşlanma durumunun değerlendirilmesini içerir. Ayrıca, bir saydam veya yarı-saydam yalıtım (2, 3, 32) ve iki fiberoptik sensör (20, 21, 30, 31) içeren bir yüksek gerilim cihazı (100, 101, 102, 103, 200) gösterilmektedir.
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
