Mevcut buluşun düzenlemeleri, bir metal hedefin mikro yapısını izlemeye yönelik aşağıdakileri içeren bir sistem sağlar: bir manyetik alanın çıkarılmasına yönelik birçok elektromanyetik sensör (420, 430, 440, 450, 551, 552, 553, 554), burada elektromanyetik sensörlerin her biri tarafından verilen bir uyarım sinyal çıkışı, çok frekanslı bir dalga formudur, ortaya çıkan manyetik alanın tespit edilmesi ve buna yanıt olarak bir algılama sinyali çıkarılması; ve birçok elektromanyetik sensörün (420, 430, 440, 450, 551, 552, 553, 554) her birine yönelik çok frekanslı dalga formunu oluşturan birçok frekansın her birindeki çıkış manyetik alanı ve ortaya çıkan manyetik alan arasındaki bir faz değişikliğini belirlemek üzere ve faz değişikliklerine bağlı olarak birçok elektromanyetik sensörde (420, 430, 440, 450, 551, 552, 553, 554) bir metal hedefin bir mikroyapısını belirlemek üzere birçok elektromanyetik sensörden (420, 430, 440, 450, 551, 552, 553, 554) verilen algılama sinyallerini alacak şekilde düzenlenmiş bir kontrol birimi (600).
This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.
