Sistem PatentSistem Patent
Menu
Patent Application

Hassaslığı Artırılmış Bir Karşılaştırma Devresi

Invention Abstract

Bu buluş, adresleme devrelerinde, sensör (S) ölçümü ön karşılaştırma devrelerinde kullanılan, her bir sensörden (S) gelen analog sinyali birden fazla dijital sinyale çevirerek çoğunluk oylamasına göre sensör (S) ölçümünü hassaslaştıran bir karşılaştırma devresi (1) ile ilgilidir. TR 2020 02360 A2

IPC Classes
H03M 1/12
Parties
Applicant
Tobb Ekonomi Ve Teknoloji Üniversitesi Beştepe Mah. Söğütözü Cad. Tobb Ekonomi Üniv. 43 Yenimahalle Ankara Türkiye
Inventor
Ali Bozbey Pascal Febvre
Attorney
Altan Altun (Proıp Patent Marka Dan. Ve Müh. Ltd. Şti.)

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.